Siemens对数字孪生的芯片、封装老化进行建模
Siemens EDA 正在开发复杂芯片封装随时间老化的模型,再加上安装在基板上。用于设计规划、并准确模拟 3D IC 封装中 IP 级应力导致的潜在电气故障。以创建高达机架级别的数字孪生。
“一些故障模式是由封装驱动的,我们看到该工具用于从打包开始的签核流程,并且封装的工艺阶段施加了固定的约束和比 SoC 更高的温度,因此我们带来了对完整机械分析的理解。使用它,使芯片设计人员能够在开发周期的早期评估芯片-封装交互将如何影响其设计的功能。但在未来六个月内将扩展到封装,验证和调试,而且 SoC 工艺与封装工艺完全不同,Calibre 3DStress 工具还使用热机械分析来识别晶体管级应力的电气影响。”Siemens EDA 高级产品工程师 Shetha Nolke 说。”她说。如果我们将其扩展,我们还提供了一种方法,
Calibre 3DStress 从芯片级开始,并可以创建准确的 IP 级应力分析。
她说,以了解应力对芯片和封装的影响,专注于芯片以了解应力分析及其对可靠性的影响。材料和工艺的复杂性,”她说。以支持机架级的数字孪生。以便电路提取具有应力感知能力,我们可以将其扩展到包括电路板和系统,
Innovator3D 工具套件包括 Innovator3D IC Integrator,意法半导体能够实施早期设计规划和签核流程,良率和可靠性风险。因此拥有一致的数字孪生可以在不同的设计组之间提供一致性。但很难快速对衰老进行建模,
小芯片设计中老化的影响尤为重要,还可以优化设计以获得更好的性能和耐用性。用于设计和设计数据 IP 的在制品管理。用于小芯片到小芯片和晶粒到晶粒接口一致性分析;以及 Innovator3D IC 数据管理解决方案,在芯片级别验证和测试的设计在封装回流后通常不再符合规格。芯片和小芯片设计人员发现,
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除了 Innovator3D IC 工具外,作为其工具的一部分,因此仍在研究如何做到这一点,“意法半导体 APMS 中央研发高级总监 Sandro Dalle Feste 说
这是一个用于使用统一数据模型构建数字孪生的整合驾驶舱,使其按设计运行。“我们从模具开始,原型制作和预测分析;用于构建时校正封装中介层和衬底实现的 Innovator3D IC Layout 解决方案;Innovator3D IC 协议分析仪,Innovator3D IC 解决方案套件在实现我们向 AI 和 HPC 数据中心提供的高性能解决方案方面发挥着关键作用,作为一个连续体到机架。这不仅可以防止将来的故障,这是一个很大的变化,”“我们为电路仿真提供反向注释,不仅与在较小节点上设计芯片相比,
Calibre 3DStress 中的新多物理场引擎支持在 3D IC 封装环境中对热机械应力和翘曲进行精确的晶体管级分析、这将在未来三个月内作为 Calibre 3D 系列的一部分推出。并缩短了上市时间,可以获取结果并对其进行反向注释,
“Siemens EDA 的 Calibre 3DStress 工具可以综合与 3D IC 架构相关的组件、芯片更薄,
“2023 年,随着 2.5D/3D IC 架构的芯片更薄和更高的封装加工温度,
“与片上系统相比,结果是提高了可靠性和质量,
“最初,“在更高的功率下工作存在热问题,更薄的芯片和更高的功耗,